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电子合同
高分辨透射电子显微镜(TEM)
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品 牌
美国 FEI
型 号Tecnai G2 F30 S-TWIN
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
面议
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
面议
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开 放
时 间
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
高分辨透射电子显微镜(TEM)服务简介：
高分辨透射电子显微镜(TEM)Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、EELS和Lorentz透镜等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
仪器参数
高分辨透射电子显微镜(TEM)技术参数
加速电压：300KV
电子枪：肖特基场发射电子枪
分辨率: 点分辨率：0.205 nm
线分辨率：0.102 nm
信息分辨率：0.14nm
HR STEM分辨率：0.16nm
EELS分辨率：0.65eV
EDX分辨率：136eV
放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX
HAADF STEM模式 200X—100M
检测项目
高分辨透射电子显微镜(TEM)应用：
透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。
样品要求
仪器简介
高分辨透射电子显微镜(TEM)服务简介：
高分辨透射电子显微镜(TEM)Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、EELS和Lorentz透镜等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
仪器参数
高分辨透射电子显微镜(TEM)技术参数
加速电压：300KV
电子枪：肖特基场发射电子枪
分辨率: 点分辨率：0.205 nm
线分辨率：0.102 nm
信息分辨率：0.14nm
HR STEM分辨率：0.16nm
EELS分辨率：0.65eV
EDX分辨率：136eV
放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX
HAADF STEM模式 200X—100M
测试项目
高分辨透射电子显微镜(TEM)应用：
透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。
样品要求
高分辨透射电子显微镜(TEM)样品要求：
样品尺寸：透射电镜能够观察200nm以下的样品；块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下；高分辨样品要求厚度在10nm以下；
样品状态：对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥；
结果实例
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