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场发射枪透射电子显微镜(TEM)
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- 详细介绍
仪器简介
仪器设备厂商及型号:
荷兰 FEI
Tecnai G2 F20
性能参数:
加速电压120 kV、160 kV、200 kV，可连续设置加速电压;
2、热场发射枪;
3、线分辨率 0.102nm;
点分辨率 0.24nm;
4、最小电子束直径0.3nm;
5、能量分辨率约1eV;
6、X射线能谱分辨率 130e kV，分辨范围 B5-U92;
7、STEM和高角环形暗场像分辨率 0.2nm;
8、倾转角度α=±40度 ，β=±40度
主要功能和用途:
高分辨电子显微观察，电子衍射，会聚束电子衍射， Z-衬度（原子序数）成像等。
X射线能谱分析
仪器简介
仪器设备厂商及型号:
荷兰 FEI
Tecnai G2 F20
性能参数:
加速电压120 kV、160 kV、200 kV，可连续设置加速电压;
2、热场发射枪;
3、线分辨率 0.102nm;
点分辨率 0.24nm;
4、最小电子束直径0.3nm;
5、能量分辨率约1eV;
6、X射线能谱分辨率 130e kV，分辨范围 B5-U92;
7、STEM和高角环形暗场像分辨率 0.2nm;
8、倾转角度α=±40度 ，β=±40度
主要功能和用途:
高分辨电子显微观察，电子衍射，会聚束电子衍射， Z-衬度（原子序数）成像等。
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