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SEM.EDS,Mapping，场发射扫描电子显微镜(最高50万倍)
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品 牌
日立
型 号SU8220
-
模 式
-
选 项
- 地 址
北京
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价 格
130
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
SEM二次电子可以看颗粒形貌，大小，分布。背散射可以看元素分布，相分布，夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布，点扫描，线扫描，面扫描。
服务详情
仪器型号：
蔡司evo18（最大10万倍），日立场发射SU8220
设备性能：
1.电镜分辨率：
0.7nm@15kV(GBSH)
0.7nm@1kV(GBSH)
3.0nm@100V (GBSH)
1.0nm@15kV
1.5nm@1.0kV
3.0nm@15kV，5nA，EDS WD of 10mm；
2.加速电压：10V~30kV；
3.放大倍数：10X~1,000,000X；
4.束流大小：几个pA~200nA。
应用范围:
1固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成分、线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域；
2 块体、粉末、磁性样品都适用；
3 特别适合导电性不佳的样品形貌观察。
收费标准：
日立场发射SU8220（最大100万倍）
仪器参数
1.电镜分辨率：
0.7nm@15kV(GBSH)
0.7nm@1kV(GBSH)
3.0nm@100V (GBSH)
1.0nm@15kV
1.5nm@1.0kV
3.0nm@15kV，5nA，EDS WD of 10mm；
2.加速电压：10V~30kV；
3.放大倍数：10X~1,000,000X；
4.束流大小：几个pA~200nA
检测项目
SEM二次电子可以看颗粒形貌，大小，分布。背散射可以看元素分布，相分布，夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布，点扫描，线扫描，面扫描。
样品要求
结果示例
仪器简介
SEM二次电子可以看颗粒形貌，大小，分布。背散射可以看元素分布，相分布，夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布，点扫描，线扫描，面扫描。
服务详情
仪器型号：
蔡司evo18（最大10万倍），日立场发射SU8220
设备性能：
1.电镜分辨率：
0.7nm@15kV(GBSH)
0.7nm@1kV(GBSH)
3.0nm@100V (GBSH)
1.0nm@15kV
1.5nm@1.0kV
3.0nm@15kV，5nA，EDS WD of 10mm；
2.加速电压：10V~30kV；
3.放大倍数：10X~1,000,000X；
4.束流大小：几个pA~200nA。
应用范围:
1固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成分、线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域；
2 块体、粉末、磁性样品都适用；
3 特别适合导电性不佳的样品形貌观察。
收费标准：
日立场发射SU8220（最大100万倍）
仪器参数
1.电镜分辨率：
0.7nm@15kV(GBSH)
0.7nm@1kV(GBSH)
3.0nm@100V (GBSH)
1.0nm@15kV
1.5nm@1.0kV
3.0nm@15kV，5nA，EDS WD of 10mm；
2.加速电压：10V~30kV；
3.放大倍数：10X~1,000,000X；
4.束流大小：几个pA~200nA
测试项目
SEM二次电子可以看颗粒形貌，大小，分布。背散射可以看元素分布，相分布，夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布，点扫描，线扫描，面扫描。
样品要求
1 样品尺寸：直径小于15mm，高度小于15mm（样品中不得含有水分）；
2 固体粉末样品：尽量不少于10mg。
结果实例
常见问题解答
问：不导电或导电差的样品，为什么要喷金？
答：SEM成像，是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好，会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等现象，喷金后样品表面导电增强，从而避免积电现象。
问：喷金后，对样品形貌是否有影响？
答：样品表面喷金后，只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层，厚度只有几个纳米到十几个纳米而已，对于看形貌来说，几乎是没有什么影响的。
问：一个样品会提供几张图片？
答：每样品提供6-8张左右，具体根据样品的拍摄情况而定。
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