服务简介：此台X射线衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品及流态样品；可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品；

此台X射线衍射仪配有标准样品台、多功能样品台、小角散射（SAXS）样品台、In-plane样品台等特殊配置，除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试、摇摆曲线测试、极图测试、侧倾应力测试、SAXS和In-plane等测试；可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。

样品的物相分析（定性分析）；晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布；物相定量分析；薄膜物相鉴定，薄膜高温分析测量；纤维或高分子样品的物相、取向度等；织构分析；应力分析。

技术指标：

最大功率:9kw   (45kV, 200mA)

theta/2theta 轴最小步距0.0002°

theta/2theta角度范围3o-140o,

In-plane测试台；多功能样品台；小角样品台；平行光附件。

X射线衍射应用领域

样品的物相分析（定性分析）；晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布；物相定量分析；薄膜物相鉴定，薄膜高温分析测量；纤维或高分子样品的物相、取向度等；织构分析；应力分析

功能特色

此X射线衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品及流态样品；可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品；

该X射线衍射仪配有标准样品台、多功能样品台、小角散射（SAXS）样品台、In-plane样品台等特殊配置，除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试、摇摆曲线测试、极图测试、侧倾应力测试、SAXS和In-plane等测试；可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。

更多介绍

X射线衍射是目前研究晶体结构最常用的方法特别适用于晶态无知的物相分析。其中，样品颗粒度的大小对样品X射线衍射的最大相对强度对应的衍射峰位影响不是很大而衍射的最大相对强度则随样品颗粒度的减小而明显增强。

X射线衍射是目前研究晶体结构如原子或离子及其基团的种类和位置分布晶胞形态和大小等最有力的方法。X射线衍射特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如果不相同或其结构存在差异它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定通过对样品衍射强度数据的分析计算可以完成样品物相组成的定量分析X射线衍射还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向材料的织构等应用二十分普遍、广泛。

结果展示

 X射线衍射仪正面                            X射线衍射仪实验结果

服务简介：此台X射线衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品及流态样品；可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品；

此台X射线衍射仪配有标准样品台、多功能样品台、小角散射（SAXS）样品台、In-plane样品台等特殊配置，除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试、摇摆曲线测试、极图测试、侧倾应力测试、SAXS和In-plane等测试；可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。

样品的物相分析（定性分析）；晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布；物相定量分析；薄膜物相鉴定，薄膜高温分析测量；纤维或高分子样品的物相、取向度等；织构分析；应力分析。

技术指标：

最大功率:9kw   (45kV, 200mA)

theta/2theta 轴最小步距0.0002°

theta/2theta角度范围3o-140o,

In-plane测试台；多功能样品台；小角样品台；平行光附件。

X射线衍射应用领域

样品的物相分析（定性分析）；晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布；物相定量分析；薄膜物相鉴定，薄膜高温分析测量；纤维或高分子样品的物相、取向度等；织构分析；应力分析

功能特色

此X射线衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品及流态样品；可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品；

该X射线衍射仪配有标准样品台、多功能样品台、小角散射（SAXS）样品台、In-plane样品台等特殊配置，除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试、摇摆曲线测试、极图测试、侧倾应力测试、SAXS和In-plane等测试；可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。

更多介绍

X射线衍射是目前研究晶体结构最常用的方法特别适用于晶态无知的物相分析。其中，样品颗粒度的大小对样品X射线衍射的最大相对强度对应的衍射峰位影响不是很大而衍射的最大相对强度则随样品颗粒度的减小而明显增强。

X射线衍射是目前研究晶体结构如原子或离子及其基团的种类和位置分布晶胞形态和大小等最有力的方法。X射线衍射特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如果不相同或其结构存在差异它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定通过对样品衍射强度数据的分析计算可以完成样品物相组成的定量分析X射线衍射还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向材料的织构等应用二十分普遍、广泛。

结果展示

 X射线衍射仪正面                            X射线衍射仪实验结果

1．粉末样品：须充分研磨，需0.2克左右；

2．片状样品：需有一个大于5´5mm（最佳为15´15mm）平整的测试面；

3．块状样品：需有一个大于5´5mm（最佳为15´15mm）平整的测试面，如不平整，可用砂纸轻轻磨平，无厚度要求；

4．纤维样品：

a. 取向度测试：样品须疏理整齐，最少需长约30mm，直径约3mm一束纤维（大约圆珠笔芯大小的一束丝）；

b. 常规测试、结晶度、晶粒尺寸：样品须充分剪碎，呈细粉末状，需0.2克左右(大约一分钱硬币的体积).