服务简介：XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。

X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。

X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。

仪器参数:

X-射线光源: 封闭管X-射线源，靶材Cu，工作电压40kV， 电流40mA。

测角仪：竖直测角仪θ-θ 几何。步进马达光学编码，2θ范围3-140°，精度±0.01°。最大转速20°/s。标准水平样品台。

探测器：LynxEye 1 维探测器，有效面积14.4mm×16mm，空间分辨75μm，最大计数率1×108cps，能量分辨率<680eV。

测试项目：

主要检测对象为结晶态的多晶样品。检测内容包括晶体中原子的排列和分布、样品中物相的组成和含量、结晶颗粒的大小、点阵常数及其随温度的变化等。

 应用范围：

用于测试多晶样品在常温下的衍射图。通过对图谱的分析可以得到样品的物相组成、含量、晶粒大小、点阵常数及晶体结构的信息及其随温度的变化。进而可以在原子水平上理解材料的性能及温度对性能的影响。

应用于化学、化工、物理、材料、制药等与晶体及其结构有关的领域。

测试结果展示

服务简介：XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。

X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。

X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。

仪器参数:

X-射线光源: 封闭管X-射线源，靶材Cu，工作电压40kV， 电流40mA。

测角仪：竖直测角仪θ-θ 几何。步进马达光学编码，2θ范围3-140°，精度±0.01°。最大转速20°/s。标准水平样品台。

探测器：LynxEye 1 维探测器，有效面积14.4mm×16mm，空间分辨75μm，最大计数率1×108cps，能量分辨率<680eV。

测试项目：

主要检测对象为结晶态的多晶样品。检测内容包括晶体中原子的排列和分布、样品中物相的组成和含量、结晶颗粒的大小、点阵常数及其随温度的变化等。

 应用范围：

用于测试多晶样品在常温下的衍射图。通过对图谱的分析可以得到样品的物相组成、含量、晶粒大小、点阵常数及晶体结构的信息及其随温度的变化。进而可以在原子水平上理解材料的性能及温度对性能的影响。

应用于化学、化工、物理、材料、制药等与晶体及其结构有关的领域。

测试结果展示

样品需制备成固体粉末（粒度200~300目）；

样品用量为1g以上。