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X射线粉末衍射仪（XRD）
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品 牌
Shimadzu
型 号XRD-6000
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模 式
- 联系人：易科学客服
- 联系电话：400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。
X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。
X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。
仪器参数
X-射线光源: 封闭管X-射线源，靶材Cu，工作电压60kV， 电流80mA。
测角仪：竖直测角仪θ-θ 几何。步进马达光学编码，2θ范围3-160°，精度±0.01°。最大转速16°/s。
标准水平样品台及高温样品台。
测角仪臂长185mm。
探测器：NaI点探测器，最大计数106。
检测项目
用于测试多晶样品在常温或高温下的衍射图。
通过对图谱的分析可以得到样品的物相组成、含量、晶粒大小、点阵常数及晶体结构的信息及其随温度的变化，进而可以在原子水平上理解材料的性能及温度对性能的影响。
样品要求
仪器简介
XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。
X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。
X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。
仪器参数
X-射线光源: 封闭管X-射线源，靶材Cu，工作电压60kV， 电流80mA。
测角仪：竖直测角仪θ-θ 几何。步进马达光学编码，2θ范围3-160°，精度±0.01°。最大转速16°/s。
标准水平样品台及高温样品台。
测角仪臂长185mm。
探测器：NaI点探测器，最大计数106。
测试项目
用于测试多晶样品在常温或高温下的衍射图。
通过对图谱的分析可以得到样品的物相组成、含量、晶粒大小、点阵常数及晶体结构的信息及其随温度的变化，进而可以在原子水平上理解材料的性能及温度对性能的影响。
样品要求
样品需制备成固体粉末（粒度200~300目）；
样品用量为1g以上。
结果实例
XRD pattern at high temperature
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